شراء Texas Instruments SN74BCT8245ANT IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

الصين
مورد المكونات الإلكترونية المهنية

الكتالوجات الشركات المصنعة رقائق CN

قد تكون الصورة تمثيلية.
راجع المواصفات للحصول على تفاصيل المنتج.

عرض المزيد من المعلومات جداول البيانات

SN74BCT8245ANT

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

رقم القطعة

SN74BCT8245ANT

الشركة المصنعة/العلامة التجارية

Texas Instruments

مسلسل

74BCT

حالة الجزء

Obsolete

التعبئة والتغليف

Tube

درجة حرارة التشغيل

0°C ~ 70°C

نوع التركيب

Through Hole

الحزمة / القضية

24-DIP (0.300", 7.62mm)

حزمة جهاز المورد

24-PDIP

مصدر التيار

4.5 V ~ 5.5 V

عدد البتات

نوع المنطق

Scan Test Device with Bus Transceivers

طلب اقتباس

يرجى إكمال جميع الحقول المطلوبة والنقر على "إرسال"، وسنتصل بك خلال 12 ساعة عبر البريد الإلكتروني. إذا كانت لديك أي مشكلة، فيرجى ترك رسائل أو إرسال بريد إلكتروني إلى [email protected]، سوف نقوم بالرد في أقرب وقت ممكن.

في الأوراق المالية 25950 PCS

معلومات الاتصال

منتجات ذات صله

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC