شراء Texas Instruments SN74LVTH182512DGGR IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

الصين
مورد المكونات الإلكترونية المهنية

الكتالوجات الشركات المصنعة

قد تكون الصورة تمثيلية.
راجع المواصفات للحصول على تفاصيل المنتج.

عرض المزيد من المعلومات جداول البيانات

SN74LVTH182512DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

رقم القطعة

SN74LVTH182512DGGR

الشركة المصنعة/العلامة التجارية

Texas Instruments

مسلسل

74LVTH

حالة الجزء

Active

التعبئة والتغليف

Tape & Reel (TR)

درجة حرارة التشغيل

-40°C ~ 85°C

نوع التركيب

Surface Mount

الحزمة / القضية

64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

حزمة جهاز المورد

64-TSSOP

مصدر التيار

2.7 V ~ 3.6 V

عدد البتات

نوع المنطق

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

طلب اقتباس

يرجى إكمال جميع الحقول المطلوبة والنقر على "إرسال"، وسنتصل بك خلال 12 ساعة عبر البريد الإلكتروني. إذا كانت لديك أي مشكلة، فيرجى ترك رسائل أو إرسال بريد إلكتروني إلى [email protected]، سوف نقوم بالرد في أقرب وقت ممكن.

في الأوراق المالية 44112 PCS

معلومات الاتصال

منتجات ذات صله

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC