شراء Texas Instruments SN74LVTH18512DGGR IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP

الصين
مورد المكونات الإلكترونية المهنية

الكتالوجات الشركات المصنعة رقائق CN

قد تكون الصورة تمثيلية.
راجع المواصفات للحصول على تفاصيل المنتج.

جداول البيانات

SN74LVTH18512DGGR

IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP

رقم القطعة

SN74LVTH18512DGGR

الشركة المصنعة/العلامة التجارية

Texas Instruments

مسلسل

74LVTH

حالة الجزء

Active

التعبئة والتغليف

Digi-Reel®

درجة حرارة التشغيل

-40°C ~ 85°C

نوع التركيب

Surface Mount

الحزمة / القضية

64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

حزمة جهاز المورد

64-TSSOP

عدد الدوائر

18-Bit

الجهد - العرض

2.7 V ~ 3.6 V

نوع المنطق

Scan Test Universal Bus Transceiver

الحالي - الناتج مرتفع ومنخفض

32mA, 64mA

طلب اقتباس

يرجى إكمال جميع الحقول المطلوبة والنقر على "إرسال"، وسنتصل بك خلال 12 ساعة عبر البريد الإلكتروني. إذا كانت لديك أي مشكلة، فيرجى ترك رسائل أو إرسال بريد إلكتروني إلى [email protected]، سوف نقوم بالرد في أقرب وقت ممكن.

في الأوراق المالية 30828 PCS

معلومات الاتصال

منتجات ذات صله

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC